云母矿粉中游离二氧化硅含量的快速测定

编号：FTJS05673

篇名：云母矿粉中游离二氧化硅含量的快速测定

作者：李昆； 王文宝；

关键词：白云母； 游离二氧化硅含量； X射线衍射(XRD)； Rietveld全谱拟合法；

机构： 苏州大学分析测试中心；

摘要： 以具有复杂晶体结构、X射线衍射峰与游离二氧化硅衍射峰严重重叠及易择优取向等特点的云母矿粉为研究对象,探讨了利用具有超能探测器的X射线衍射仪在连续扫描模式下收谱以及Rietveld全谱拟合快速测定其中游离二氧化硅含量的可行性。结果表明:与步骤复杂、测试周期长等的传统X射线衍射标准曲线法相比较而言,该方法不仅操作简便、收谱快速而且结果准确性高、重现性好。重现性测定的最大标准偏差为1.39%。实际样品测试也表明此方法是一种简便易行的测定各类粉尘中游离二氧化硅含量的好方法。